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                    • 粗糙度儀應(yīng)用廣泛 粗糙度儀應(yīng)用廣泛 摘要:便攜式粗糙度儀被廣泛涉及的行業(yè)范圍及運(yùn)用特點(diǎn)。下面就給詳細(xì)分享介紹。**、便攜式粗糙度儀主要涉及的行業(yè)1.機(jī)械加工制造業(yè),主要是金屬加工制造.粗糙度儀初的產(chǎn)生就是為了檢測(cè)機(jī)械加工零件表面粗糙度而生的...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-07-07 07:59 點(diǎn)擊次數(shù):1239 次
                    • 平面平晶如何判斷平面及干涉條紋? 摘要:圓形平晶利用什么原理進(jìn)行波的傳播,它的平面如何判斷?下面南京米厘特公司將進(jìn)行一系列的介紹。**、圓形平晶利用什么原理進(jìn)行波的傳播就是利用光線的干涉原理,在波的傳播過(guò)程中,介質(zhì)中質(zhì)點(diǎn)的振動(dòng)雖頻率相同,但步調(diào)不一致,在波...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-06-30 07:53 點(diǎn)擊次數(shù):2265 次
                    • 讀數(shù)顯微鏡對(duì)光時(shí)應(yīng)首先干什么? 讀數(shù)顯微鏡對(duì)光是使用顯微鏡時(shí)很重要的一步,有些學(xué)生在對(duì)光時(shí),隨便轉(zhuǎn)一個(gè)物鏡對(duì)著通光孔,而不是按要求一定用低倍鏡對(duì)光。轉(zhuǎn)動(dòng)反光鏡時(shí)喜歡用一只手,往往將反光鏡扳了下來(lái)。所以教師在指導(dǎo)學(xué)生時(shí),一定要強(qiáng)調(diào)用低倍鏡對(duì)光,當(dāng)光線較...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-05-30 17:15 點(diǎn)擊次數(shù):1328 次
                    • 高斯計(jì)測(cè)量值為何不同 高斯計(jì)測(cè)量值為何不同 同一磁體用不同的高斯計(jì)測(cè)量,測(cè)量值誤差大的原因是:①特斯拉計(jì)探頭的磁感應(yīng)器大小尺寸厚薄不同。②霍爾探頭的外封裝有一定的差異導(dǎo)致測(cè)出磁體表磁的值不同。③霍爾探頭工作正負(fù)向的誤差,也可能造成測(cè)試表磁的誤差...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-04-24 08:19 點(diǎn)擊次數(shù):1352 次
                    • 手持折光儀切削液的濃度與什么有關(guān)系? 它的濃度實(shí)際就是質(zhì)量濃度。要除以濃度系數(shù)才是質(zhì)量濃度。但是為了方便管理,每個(gè)產(chǎn)品都有要求的使用BRIX濃度。提高濃度的方法只有增加原液,別的方法都不靠譜。濃度只與原液含量有關(guān),會(huì)隨著使用,蒸發(fā)損失。 現(xiàn)在常用的是手...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-03-21 09:02 點(diǎn)擊次數(shù):1711 次
                    • 電刻筆使用技巧及注意事項(xiàng) 電刻筆不需要在所需金屬表面導(dǎo)電,通過(guò)振動(dòng)就可以在金屬表面刻上硬痕的標(biāo)識(shí)電刻筆方便刻字質(zhì)量不好。
                      發(fā)布時(shí)間:2014-03-21 08:59 點(diǎn)擊次數(shù):3155 次
                    • 如何正確使用海德堡放大鏡? 如何正確使用海德堡放大鏡? 對(duì)于一般的透明介質(zhì)如玻璃,若是呈長(zhǎng)方體結(jié)構(gòu),或者說(shuō)至少有兩個(gè)面是互相平行的,那么光線從一個(gè)面進(jìn)入該玻璃中,再?gòu)牧硪粋€(gè)面射出,這時(shí)入射光線和出射光線是平行的,但對(duì)于像凸透鏡這樣的玻璃體。 海德堡放...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-02-16 09:11 點(diǎn)擊次數(shù):1623 次
                    • 平面平晶測(cè)量平面性的原理依據(jù) 平面平晶測(cè)量平面性的原理依據(jù) 測(cè)量時(shí),先使平晶邊緣輕輕地與被測(cè)表面接觸,逐漸使整個(gè)表面接觸,再調(diào)整平晶使與被測(cè)表面之間保持一微小夾角,直到出現(xiàn)清晰的干涉條紋為止。如干涉條紋很密而調(diào)整平晶位置又不能使干涉條紋的間距加寬,則說(shuō)...
                      發(fā)布時(shí)間:2014-01-15 10:28 點(diǎn)擊次數(shù):2067 次
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